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同步辐射吸收谱测试
介绍同步辐射吸收谱，也称X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure，XAFS)，一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单个吸收原子的电子结构(轨道跃迁、杂化)，是一种微观的、结
粉末XRD
测试项目：a. 常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°;b. 常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min;小角测试速率：1°/min, 0.5°/min;更多测试要求请咨询客户经理;样品要求：1. 样品状态：可为粉末
单晶XRD
测试项目：a. 靶材：钼靶，铜靶，旋转靶;b. 测试温度：室温和低温;更多测试要求请咨询客户经理。样品要求：1. 晶体质量好，可测无机晶体，有机晶体以及MOF。2. 有机和MOF类单晶，在送样时，应放在母液中，一起寄出。3. 若要解析结构，
紫外光电子能谱UPS
测试项目：UPS可以测试样品功函数和价带位置;更多测试要求请咨询客户经理。样品要求：1.样品状态：薄膜，样品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超过8*8mm，可以为正方形或者长方形，厚度最好不要超过1mm，样品要求具有一定导电性。2.粉体样
掠入射XRD（GIXRD）
介绍掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让X射线略过样品表面的技术，能够通过调节入射角度从而改变探测深度，对表面的灵感度可高达致几nm，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜(特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。优势1.测试光是平行光，相对于常规的
X射线光电子能谱（XPS）
介绍X射线光电子能谱(XPS)是分析物质表面化学性质的一项技术，也作为电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，可测量材料中元素组成、经验公式、元素化学态和电子态，常常和俄歇电子能谱(AES)配合使用。由于他可以比俄歇电子能谱技术更准确
X射线荧光光谱仪（XRF）
测试项目：可测元素范围：11Na-92U样品要求：1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品。2. 粉末样品：粉末样品需要至少1 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，200目以下;含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，
紫外光电子能谱（UPS）
一、分析方法开发分析方法的开发主要包括色谱柱的选择、流动相的选择、检测波长的选择和梯度的优化几个方面。1、色谱柱的选择1.1普通的C18或相应的C8色谱柱，如Waters的Symmetry C18或C8，YMC的Pack Pro C18或C
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